電控位移探針冷熱臺(tái)（納米級(jí)） 參考價(jià)：150000
果果儀器_電控位移探針冷熱臺(tái)（納米級(jí)）是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征，采用高精度電控探針，達(dá)到納米級(jí)控制。產(chǎn)...
拉伸冷熱臺(tái) 參考價(jià)：面議
原位拉伸冷熱臺(tái)是一款研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的產(chǎn)品 。 原位拉伸模塊可以設(shè)定恒力或恒速方式進(jìn)行拉伸、壓縮，或者按程序段進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)。產(chǎn)品采用液氮致冷...
光學(xué)熱臺(tái) H600S 參考價(jià)：30000
冷熱臺(tái),H600S光學(xué)冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)...
果果儀器 拉伸機(jī)冷熱臺(tái) 參考價(jià)：160000
果果儀器 拉伸機(jī)冷熱臺(tái)是一種安裝在萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)上研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的產(chǎn)品。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT...
電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：100000
果果儀器電化學(xué)電池,電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能。目前常規(guī)的方法是通過(guò)電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度，測(cè)試時(shí)，樣品的電荷是放回...
探針冷熱臺(tái) ECH600S 參考價(jià)：70000
探針冷熱臺(tái) ECH600S是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~6...
果果儀器 磁吸式探針 參考價(jià)：1000
外部調(diào)節(jié)探針臺(tái),磁吸式探針創(chuàng)新測(cè)試探針設(shè)計(jì)，尺寸小，適用空間要求低。底部通過(guò)磁鐵吸附在底板上，適用于功能材料、電路板、半導(dǎo)體等的測(cè)試。
光學(xué)透光冷熱臺(tái) 參考價(jià)：60000
光學(xué)透光冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。
SEM原位冷熱臺(tái) 參考價(jià)：165000
原位冷熱臺(tái),sem冷熱臺(tái)是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)上（無(wú)需改造電鏡內(nèi)部），提供樣品原位變溫測(cè)試的電鏡附件。
XRD原位冷熱臺(tái) 參考價(jià)：110000
XRD冷熱臺(tái),XRD原位冷熱臺(tái)是一款X-射線衍射儀的變溫測(cè)試附件，可實(shí)現(xiàn)樣品變溫測(cè)試，支持在空氣/惰性氣體/真空的環(huán)境條件下測(cè)試。
果果儀器 SEM原位拉伸冷熱臺(tái) 參考價(jià)：330000
原位拉伸臺(tái),SEM拉伸臺(tái),SEM原位拉伸冷熱臺(tái)是在SEM(掃描電子顯微鏡)下的一款研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的產(chǎn)品。原位拉伸臺(tái)采用液氮致冷、電阻加熱的...
果果儀器外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái) 參考價(jià)：125000
外部調(diào)節(jié)探針臺(tái),果果儀器外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特性。產(chǎn)品采用半導(dǎo)體冷熱的方式，實(shí)現(xiàn)-2...
光電測(cè)試 探針冷熱臺(tái) 參考價(jià)：65000
果果儀器 光電測(cè)試 探針冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。
介電溫譜測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：120000
介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)是一款研究介電材料在不同溫度下的介電常數(shù)、損耗值變化，同時(shí)還可以測(cè)試樣品在不同溫度下的介電數(shù)據(jù)隨頻率變化曲線，適用塊體材料和薄膜材料。
果果儀器 外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái) 參考價(jià)：125000
果果儀器 外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái)是一款針對(duì)材料研究過(guò)程中變溫電學(xué)測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征材料升溫和降溫階段，其電學(xué)性能隨溫度變化的特征。
果果儀器 半導(dǎo)體冷熱臺(tái) 參考價(jià)：25000
果果儀器 半導(dǎo)體冷熱臺(tái)又稱帕爾貼冷熱臺(tái)，利用半導(dǎo)體的熱-電效應(yīng)制冷，配合循環(huán)水散熱，在-30~150℃的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行控溫，實(shí)現(xiàn)樣品在開(kāi)放式/氣密/真空環(huán)境下的...
DIC三維顯微應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：600000
三維數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)（DIC）具有準(zhǔn)確性、穩(wěn)健性和易用性的特點(diǎn)，已被廣泛應(yīng)用于應(yīng)變測(cè)量。但是，對(duì)于需要高放大倍數(shù)的測(cè)量樣品，3D測(cè)量仍很難達(dá)到測(cè)量需求，這主要是...
光學(xué)冷熱臺(tái) 恒溫臺(tái) 參考價(jià)：60000
光學(xué)冷熱臺(tái) 恒溫臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。
果果儀器 半導(dǎo)體冷熱臺(tái)PE120 參考價(jià)：25000
果果儀器 半導(dǎo)體冷熱臺(tái)PE120采用半導(dǎo)體冷熱控制，配合循環(huán)水散熱，實(shí)現(xiàn)從-25～120℃（選型）的控溫。無(wú)需液氮等致冷劑，具有無(wú)噪聲、無(wú)振動(dòng)等特點(diǎn)?？梢詫?shí)現(xiàn)變...
果果儀器 原位拉伸冷熱臺(tái) 參考價(jià)：160000
果果儀器 原位拉伸冷熱臺(tái)是一款研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的產(chǎn)品。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選...
原位拉伸冷熱臺(tái) FS500 參考價(jià)：160000
原位拉伸冷熱臺(tái) FS500是一款研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的產(chǎn)品。產(chǎn)品采用液氮制冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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