目錄:深圳市善時(shí)儀器有限公司>>進(jìn)口鍍層測(cè)厚儀>> iEDX-150T鍍層測(cè)厚儀
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更新時(shí)間：2025-04-15 12:23:05瀏覽次數(shù)：2031評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
一、iEDX-150T鍍層測(cè)厚儀主要參數(shù):
1、多鍍層分析，1～5層(不含基材）；
2、測(cè)試精度：0.001 μm；
3、元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；
4、測(cè)量時(shí)間：10~30秒；
5、SDD探測(cè)器，能量分辨率為125±5eV；
6、探測(cè)器Be窗0.5mil（12.7μm）；
7、微焦X射線管50kV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）；
8、標(biāo)配6個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換；
9、XYZ三維全自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，荷載最*大為5公斤；
10、高清CCD攝像頭（200萬(wàn)像素），準(zhǔn)確監(jiān)控位置；
11、多變量非線性去卷積曲線擬合；
12、高性能FP/MLSQ分析；
13、儀器尺寸：618×525×490mm；
14、樣品臺(tái)尺寸：230×220mm；
15、樣品臺(tái)移動(dòng)范圍：前后左右各80mm、高度90mm；
16、樣品倉(cāng)尺寸：395×400×102mm。
二、圖譜界面:
1、軟件支持無(wú)標(biāo)樣分析；
2、寬大分析平臺(tái)和樣品腔；
3、集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面；
4、采用多種光譜擬合分析處理技術(shù)；
5、鍍層測(cè)厚分析精度可達(dá)到0.001μm。
三、分析報(bào)告結(jié)果:
1、直接打印分析報(bào)告；
2、報(bào)告可轉(zhuǎn)換為PDF，EXCEL格式。
四、iEDX-150T鍍層測(cè)厚儀樣品分析圖譜:
測(cè)試結(jié)果界面:
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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