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· 鑒別晶相和非晶相，并測定樣品純度

· 對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析

· 微觀結構分析（微晶尺寸、微應變、無序…）

· 熱處理或加工制造組件產生的大量殘余應力

· 織構（擇優(yōu)取向）分析

· 指標化、從頭晶體結構測定和晶體結構精修

對分布函數分析

對分布函數（PDF）分析是一種分析技術，它基于Bragg以及漫散射（“總散射"），提供無序材料的結構信息。其中，您可以通過Bragg衍射峰，了解材料的平均晶體結構的信息（即長程有序），通過漫散射，表征其局部結構（即短程有序）。

就分析速度、數據質量以及對非晶、弱晶型、納米晶或納米結構材料的分析結果而言，D8 ADVANCE和TOPAS軟件替代了市面上性能更好的PDF分析解決方案：

· 相鑒定

· 結構測定和精修

· 納米粒度和形狀

薄膜和涂層

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進一步提供了光束調節(jié)和角度操控功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時，著重對厚度在nm和µm之間的層狀材料進行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）。

D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分析：

· 掠入射衍射

· X射線反射法

· 高分辨率X射線衍射

· 倒易空間掃描