目錄:北京瑞科中儀科技有限公司>>薄膜測(cè)量?jī)x器>> SpectraRay/4光譜橢偏儀
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更新時(shí)間：2024-07-10 07:49:00瀏覽次數(shù)：868評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子/電池 |
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光譜橢偏儀
建模
測(cè)量參數(shù)可以模擬作為波長(zhǎng)、光子能量、倒數(shù)厘米、入射角、時(shí)間、溫度、薄膜厚度測(cè)量和其他參數(shù)的函數(shù)
自動(dòng)掃描
我們光譜橢偏儀的自動(dòng)掃描的選項(xiàng)具有預(yù)定義或用戶定義的模式、廣泛的統(tǒng)計(jì)以及數(shù)據(jù)的圖形顯示，如2D顏色、灰度、輪廓、+/-偏離平均值和3D繪圖。
SpectraRay/4，SENTECH所有的光譜橢偏測(cè)量軟件，包括數(shù)據(jù)采集、建模、擬合和橢偏測(cè)量、反射和傳輸數(shù)據(jù)的擴(kuò)展報(bào)告。它支持可變角度、多實(shí)驗(yàn)和組合光度測(cè)量。SpectraRay/4包括基于SENTECH厚度測(cè)量和文獻(xiàn)數(shù)據(jù)的龐大的材料數(shù)據(jù)庫(kù)。大量的散射模型允許對(duì)幾乎任何類型的材料建模。
SpectraRay/4提供了用戶友好的面向工作流的接口來(lái)操作SENTECH光譜橢偏測(cè)量工具以及建模、擬合和表示橢偏測(cè)量數(shù)據(jù)的綜合工具集。用戶界面結(jié)合了面向操作人員的配方模式以及用于交互式測(cè)量和建模的高級(jí)模式。
SpectraRay/4具有單軸和雙軸各向異性材料測(cè)量、薄膜厚度測(cè)量和層測(cè)量的功能。該軟件可處理樣品效應(yīng)，如去極化，非均勻性，散射(米勒矩陣)，以及背面反射。
SpectraRay/4包括用于數(shù)據(jù)導(dǎo)入和導(dǎo)出(包括ASCII)、文件管理、光譜的算術(shù)操作、顯示、打印和報(bào)告輸出(Word文件格式*.doc)的通用光譜橢偏測(cè)量軟件包的所有實(shí)用程序。腳本程序使得它非常靈活，適用于自動(dòng)化日常測(cè)量，為苛刻的應(yīng)用所研發(fā)，并可控制第三方硬件，如傳感器，加熱臺(tái)，樣品電池或低溫恒溫器。
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