目錄:北京瑞科中儀科技有限公司>>薄膜測(cè)量?jī)x器>> SENDIRA光譜橢偏儀
| 參考價(jià) | 面議 |
| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2024-07-10 07:45:01瀏覽次數(shù)：828評(píng)價(jià)
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子/電池 |
|---|
光譜橢偏儀
橢偏振動(dòng)光譜
利用紅外光譜中分子振動(dòng)模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測(cè)量。
傅立葉紅外光譜儀FTIR適用
集成賽默飛世爾Thermo Fisher制造的型號(hào)FTIR iS50紅外光譜儀。它也適用于一般的振動(dòng)光譜。
光譜橢偏儀SENDIRA用于測(cè)量薄膜厚度，折射率，消光系數(shù)以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見(jiàn)范圍內(nèi)是不透明的，現(xiàn)在也可以進(jìn)行測(cè)量。同時(shí)可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。
SENTECH光譜橢偏儀SENDIRA是專(zhuān)門(mén)為紅外應(yīng)用(FTIR)設(shè)計(jì)的。緊湊型測(cè)量臺(tái)包括橢圓儀光學(xué)部件，計(jì)算機(jī)控制角度計(jì)，水平樣品臺(tái)，自動(dòng)準(zhǔn)直透鏡，商用FTIR和DTGS或MCT探測(cè)器。FTIR在400?cm-1 ～6,000?cm-1 (1.7?µm?–?25?µm)光譜范圍內(nèi)提供了的精度和分辨率。
光譜橢偏儀SENDIRA主要用于薄層的振動(dòng)光譜分析。應(yīng)用范圍從介質(zhì)膜、TCO、半導(dǎo)體膜到有機(jī)膜層。SENDIRA是由SpectraRay/4 軟件操作，另外還提供了FTIR軟件。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
3
化工儀器網(wǎng)