手機可靠性性能測試方法恒溫恒濕試驗箱：

目的

此可靠性測試標準的目的是盡可能的挖掘設計、制造過程中潛在的問題，在正式投產(chǎn)之前找到改善的方法并解決上述問題點，為正式生產(chǎn)在產(chǎn)品質(zhì)量上作必要的保證；并檢測產(chǎn)品是否具備設計上的成熟性，使用上的可靠性。具體包括新產(chǎn)品的實驗，物料的實驗以及例行抽檢實驗等。

可靠性測試項目及方法

高溫儲存試驗

試驗目的：檢驗產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下存儲的適應性。

試驗設備：恒溫恒濕試驗箱

試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，不插SIM卡關機狀態(tài)以正常位置放進試驗箱內(nèi)。使試驗箱在30分鐘內(nèi)溫度達到70±2℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)48小時。持續(xù)期滿后將試驗樣機在正常大氣條件下放置2小時，之后對試驗樣機進行試驗后檢查。

判定標準：通過基本功能測試，外觀及結構正常。

低溫儲存試驗

試驗目的：檢驗產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下存儲的適應性。

試驗設備：恒溫恒濕試驗箱

試驗內(nèi)容：試驗樣機（需包裝）帶電池及電池后蓋，不插SIM卡關機狀態(tài)以正常位置放進試驗箱內(nèi)。使試驗箱在30分鐘內(nèi)溫度達到-20±3℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)48小時。持續(xù)期滿后將試驗樣機在正常大氣條件下放置2小時，之后對試驗樣機進行試驗后檢查。

判定標準：通過基本功能測試，外觀及結構正常。

高溫工作試驗

 試驗目的：檢驗產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用的適應性

 試驗設備：恒溫恒濕試驗箱

 試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上SIM卡及T卡，處于待機狀態(tài)（滑/翻蓋處于打開狀態(tài)），以正常位置放進試驗箱內(nèi)。使試驗箱在30分鐘內(nèi)溫度達到55±2℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)8小時。持續(xù)期滿后立即對測試樣機進行試驗后檢查。

判定標準：通過基本功能測試，外觀及結構正常。

 低溫工作試驗

試驗目的：檢驗產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下使用的適應性

判定標準：通過基本功能測試，外觀及結構正常。

高溫工作試驗

試驗目的：檢驗產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用的適應性

試驗設備：恒溫恒濕試驗箱

試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上SIM卡及T卡，處于待機狀態(tài)（滑/翻蓋處于打開狀態(tài)），以正常位置放進試驗箱內(nèi)。使試驗箱在30分鐘內(nèi)溫度達到55±2℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)8小時。持續(xù)期滿后立即對測試樣機進行試驗后檢查。

判定標準：通過基本功能測試，外觀及結構正常。

穩(wěn)定后持續(xù)8小時。持續(xù)期滿后立即對測試樣機進行試驗后檢查。

判定標準：通過基本功能測試，外觀及結構正常。