膜厚儀作為一種測量膜層厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是光學(xué)膜厚儀，因為測量精度高、非接觸方、無須破壞樣品等優(yōu)點，受到眾多企業(yè)用戶和高校老師的喜愛，今天主要對光學(xué)膜厚儀做個簡單了解。

<1>光學(xué)膜厚儀的優(yōu)點

　　1.非接觸式測量

　　光學(xué)膜厚儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何損傷，能夠樣品的完整性。

　　2.測量數(shù)據(jù)多樣

　　可以測得物體的膜厚度和n，k數(shù)據(jù)，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點。

　　3.測量快速

　　光學(xué)膜厚儀的測量過程非常快速，因為該設(shè)備采用了的結(jié)構(gòu)設(shè)計，能夠極大程度的提升測量效率，相比于其他類型膜厚測量設(shè)備來說顯得非常輕巧方便。

　　4.適用范圍廣

　　光學(xué)膜厚儀的適用范圍非常廣泛，從普通家用到工廠的工業(yè)生產(chǎn)，再到大學(xué)實驗室和科學(xué)研究所，都可以看到它的身影，由此可見它的使用范圍廣泛，能夠作業(yè)的場合也變得更加多樣化。

<2>光學(xué)膜厚儀的使用注意事項

　　1.零點校準(zhǔn)

　　在每次使用膜厚儀之前需要進行光學(xué)校準(zhǔn)，因為之前的測量參數(shù)會影響該次對物體的測量，零點校準(zhǔn)可以消除前次測量有參數(shù)的影響，能夠降低測量的結(jié)果的誤差，使測量結(jié)果更加。

　　2.基體厚度不宜過薄

　　在使用光學(xué)膜厚儀對物體進行測量時基體不宜過薄，否則會極大程度的影響儀器的測量精度，造成數(shù)據(jù)結(jié)果不，影響測量過程的正常進行。

　　3.物體表面粗糙程度

　　對于被測物體的表面不宜太過粗糙，因為粗糙的表面容易引起光的衍射，降低了光學(xué)膜厚儀的測量精度，造成很大的誤差。所以被測物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑，以測量結(jié)果的性。

　　有關(guān)于光學(xué)膜厚儀的優(yōu)勢以及使用注意事項在上面的內(nèi)容中已經(jīng)跟大家做了一個具體的介紹，如果想對光學(xué)膜厚儀有進一步的了解請聯(lián)系我們，可和我們工程師一對一溝通交流。