介電常數(shù)到底是表征材料的什么性能？介電電常數(shù)和介電損耗是什么關(guān)系？

存在這樣一種電學現(xiàn)象：介質(zhì)在外加電場時會產(chǎn)生感應電荷而削弱電場，這種被削弱的能量，一部分被介質(zhì)存起來，另一部分損耗掉（轉(zhuǎn)化為熱能）。為了定量描述這種現(xiàn)象，于是設計了“介電常數(shù)”和“介電損耗”這兩個參數(shù)。
介電常數(shù)是表征材料在電場中存儲電荷的能力的一種參數(shù)。
介電常數(shù)(permittivity)的定義就是，介質(zhì)中電場與真空中電場的比值比值即為介電常數(shù)。
介電損耗就是表征那部分因發(fā)熱而損耗掉的能量。
介質(zhì)損耗（diclectric loss）的定義就是，電介質(zhì)在電場作用下，在單位時間內(nèi)因發(fā)熱而消耗的能量稱為電介質(zhì)的損耗功率

高頻介電常數(shù)及介質(zhì)蒜損耗測試系統(tǒng)主要測試材料:

1 絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC 等

AS2855高頻絕緣材料介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)

AS2855高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的jia解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用QBG-3E或AS2853A數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。