雙束掃描電鏡借助這款掃描電子顯微鏡的超快速度,開啟您對新維度的探索。現(xiàn)如今,在MultiSEM出色的圖像采集速度推動下,您終于能夠以納米級的圖像分辨率對大型樣品進行高通量快速成像。

MultiSEM專為全天候連續(xù)可靠的運行而設計。只需簡單設置高性能數(shù)據(jù)圖像采集工作流程,然后,在MultiSEM自行拍攝納米分辨率的高襯度圖像時,您便可以繼續(xù)您的其他工作,無需實時查看著它的運行。

MultiSEM使用ZEN成像軟件,讓您可以直觀而靈活地操控這款高性能的顯微鏡。自動調(diào)節(jié)程序能保證您獲得出色的高分辨率數(shù)據(jù)。

雙束掃描電鏡更簡單、更智能、更高度集成：

納米級分辨率下的超快圖像采集速度：

多條電子束平行工作,為您帶來的總體成像速度。在4nm像素大小下采集1mm²的區(qū)域只需幾分鐘成像時間。憑借每小時超過1TB的出色成像速度,可在納米級的圖像分辨率下對大體積物體(>1mm³)的連續(xù)超薄切片樣本進行成像。優(yōu)化的探測器會非常有效地收集二次電子信號,為您在低噪音水平下提供高襯度圖像。

適用于大型樣品的電子顯微鏡：

MultiSEM為全天候連續(xù)運行而設計,并配備了一個可容納10cmx10cm大小樣品的樣品夾。這意味著您不必再為了納米級的圖像分辨率而犧牲樣品尺寸。您終于可以對整個樣品進行成像,發(fā)現(xiàn)您所需要的一切,解答您的科學疑問。通過自動圖像采集方案可實現(xiàn)大面積成像,您將獲得細節(jié)完備的整張圖像,且不會丟失宏觀信息。

配備ZEN成像軟件的電子顯微鏡：

通過將ZEN引入MultiSEM,我們將蔡司光學顯微鏡的標準化軟件帶入了電子顯微鏡的世界。ZEN可以讓您以一種簡單直觀的方式操控MultiSEM。智能化自動調(diào)節(jié)程序能夠支持您捕獲具有高分辨率和高質量的出色圖像。您可以快速輕松地設置復雜的自動圖像采集流程,將其用于您的樣品成像。

用于MultiSEM的ZEN還具有連續(xù)平行圖像記錄所需的高速度。為實現(xiàn)靈活快速的應用開發(fā),它還具有一個開放的應用編程接口(API)。

MultiSEM通過采用多條電子束和檢測器并行的方式實現(xiàn)超快的成像速度。這種方法的關鍵是 一個經(jīng)過微調(diào)的探測路徑  (紅色),它能夠收集大量的二次電子,用于多探測器陣列的成像 。 每條電子束在樣品的一個位置執(zhí)行同步掃描程序,以此獲得單個子圖像。電子束呈特色鮮明 的六邊形排列。通過將所有子圖像合并在一起,最終形成完整的圖像。并行的計算機設置程 序用于快速記錄數(shù)據(jù),以保證達到的整體成像速度 。在 MultiSEM 系統(tǒng)中,圖像采集和工 作流程控制獨立,以保證充分發(fā)揮性能。

采集連續(xù)切片的補充工作流解決方案：

ATUMtome 是一款具有自動條帶收集裝置的超薄切片機,一天內(nèi)可以收集多達 1000 個連續(xù)切片。隨后,帶有切片的條帶被安裝在硅片上 ,  可 以用帶有 ZEN 成像軟件和 Shuttle & Find 的蔡司光學顯微鏡進行成像。

您可以通過拍攝光學顯微鏡概覽圖像來設計實驗,并在 MultiSEM 中使用相同的 ZEN 軟件用戶界面輕松瀏覽您的樣品 。規(guī)劃和設置采集工作流程 只需一個圖形用戶界面。自動切片檢測可以支持您以非常有效的方式識別和鎖定感興趣區(qū)域。