電阻應(yīng)變計測量技術(shù)（resistance strain gage technique）是用電阻應(yīng)變計測定構(gòu)件的表面應(yīng)變，再根據(jù)應(yīng)力，應(yīng)變的關(guān)系式，確定構(gòu)件表面應(yīng)力狀態(tài)的一種實(shí)驗(yàn)應(yīng)力分析方法。將電阻應(yīng)變計固定在被測構(gòu)件上，構(gòu)件變形時，應(yīng)變計的電阻將發(fā)生相應(yīng)變化。用電阻應(yīng)變儀（見電阻應(yīng)變測量裝置）測量電阻變化，把它換算成應(yīng)變值;或輸出與應(yīng)變成正比的模擬電信號（電壓的或電流的），由記錄器記錄下來，或用計算機(jī)按預(yù)定要求進(jìn)行數(shù)據(jù)處理;用上述方法都可得到所測的應(yīng)力或應(yīng)變。

   應(yīng)用電阻應(yīng)變計測量常溫下的靜態(tài)應(yīng)變時，可達(dá)到較高的靈敏度和精度，其最小應(yīng)變讀數(shù)為1微應(yīng)變，一般精度為1~2%，應(yīng)變測量范圍從1微應(yīng)變到2萬微應(yīng)變，特殊的大應(yīng)變電阻應(yīng)變計可測到結(jié)果為20%的應(yīng)變值。常溫箔式電阻應(yīng)變計柵長可短到0.178毫米，適于測量應(yīng)力梯度較大的構(gòu)件的應(yīng)變。采用應(yīng)變花，可方便地測定平面應(yīng)變狀態(tài)下構(gòu)件上一點(diǎn)的應(yīng)變。多點(diǎn)巡回的測量裝置，可在數(shù)分鐘內(nèi)自動記錄上千個應(yīng)變數(shù)據(jù)。如果采用存儲器，由于每抄可存儲數(shù)萬個數(shù)據(jù)，適合測量測點(diǎn)較多的大型構(gòu)件的應(yīng)變。