1、產(chǎn)品特點(diǎn)：

 PILATUS3 R CdTe系列結(jié)合了無噪聲單光子計數(shù)的優(yōu)點(diǎn)和在大型碲化鎘（CdTe）傳感器中直接檢測硬X射線的優(yōu)點(diǎn)。
      與閃爍體的檢測器相比，混合像素中的直接檢測產(chǎn)生更銳利的信號和更好的空間分辨率。 CdTe為Mo，Ag和In輻射提供接近1的吸收效率。結(jié)合無噪聲單光子計數(shù)，這將實(shí)驗室中的X射線檢測帶入了一個新的靈敏度和準(zhǔn)確度水平。
      實(shí)驗室中的X射線源，尤其是硬X射線的X射線源比同步加速器弱得多，因此需要較長的曝光時間并導(dǎo)致較弱的信號，由于沒有暗電流和讀出噪音，PILATUS3 R探測器超過了實(shí)驗室的所有其他技術(shù)。單光子計數(shù)不含所有其他噪聲源以及CMOS電容檢測器內(nèi)置的不準(zhǔn)確性，例如復(fù)位噪聲和非線性電荷響應(yīng)。相反，由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供了較快的計數(shù)能力，結(jié)合精確的計數(shù)率校正提供寬泛的線性范圍，*兼容所有實(shí)驗室應(yīng)用和*的X射線源。
       具有挑戰(zhàn)性的實(shí)驗室應(yīng)用（如電荷密度研究和配對分布函數(shù)分析）依靠硬輻射和具有出色信噪比的數(shù)據(jù)，PILATUS3 R CdTe探測器系列提供了高效直接探測和無噪聲單光子計數(shù)的組合，并且是實(shí)驗室中這些要求的更高匹配。
2、核心優(yōu)勢
     - Mo，Ag和In量子效率> 90％
     - 直接檢測清晰的空間分辨率
     - 沒有讀出噪音，也沒有黑暗信號達(dá)到較高精度
     - 高動態(tài)范圍
     - 熒光背景抑制
     - 計數(shù)率
     - 同步輻射級別的輻射硬度
     - 免維護(hù)運(yùn)行
     - 高可靠性：沒有容易發(fā)生故障的密封，無需冷卻至室溫以下
 3、應(yīng)用領(lǐng)域
     - 電荷密度分析
     - 對分布函數(shù)（PDF）分析
     - 高分辨率化學(xué)結(jié)晶學(xué)
     - 高壓/高溫XRD
     - 關(guān)鍵尺寸SAXS
     - 計算機(jī)斷層掃描（CT）
     - 無損檢測（NDT）

技術(shù)參數(shù)：

北京優(yōu)納珂科技有限公司是瑞士DECTRIS（德科特思）在中國地區(qū)同步輻射和科研實(shí)驗室總代理。負(fù)責(zé)DECTRIS（德科特思）產(chǎn)品在中國軟硬件的售前售后，EIGER2、PILATUS3、MYTHEN2、ELA、QUADRO、SINGLA探測器參數(shù)。公司擁有專業(yè)的銷售、服務(wù)團(tuán)隊，為您提供產(chǎn)品咨詢、設(shè)備安裝、設(shè)備維護(hù)等專業(yè)的一站式服務(wù)。公司秉承提供優(yōu)秀的產(chǎn)品、優(yōu)良的技術(shù)與良好的服務(wù)態(tài)度，本著“客戶至上”的原則，竭誠為您服務(wù)。詳情請致電400 188 9798了解更多信息。