設(shè)計(jì)用于測量背向反射（回?fù)p）對(duì)轉(zhuǎn)發(fā)器原型影響的可變背向反射器。

主要優(yōu)點(diǎn)

55 dB反射范圍
輕松的實(shí)時(shí)操作
OSICS平臺(tái)內(nèi)的單插槽模塊

應(yīng)用

模擬非配對(duì)連接器的累積反射
回?fù)p測量校準(zhǔn)
元器件測試
激光器開發(fā)和生產(chǎn)
OTDR測試

描述

EXFO的OSICS BKR可變背反射器可模擬光纖系統(tǒng)內(nèi)所有光接口上的反射率。它是測試背向反射對(duì)應(yīng)答器原型造成的影響，以及在PON/WDM系統(tǒng)中對(duì)發(fā)射器和接收器進(jìn)行壓力測試的完美研發(fā)工具。

大反射范圍

OSICS BKR集成有可變反射器，它可設(shè)置為3至55 dB，并在很大的波長范圍內(nèi)工作。其大反射范圍使您能夠采用單臺(tái)儀表涵蓋任何設(shè)置。

輕松的實(shí)時(shí)操作

可在用戶友好的前面板顯示屏上實(shí)時(shí)調(diào)整或讀取反射率。

新增功能

EXFO的OSICS模塊配備多個(gè)出色的功能，包括遠(yuǎn)程命令、高性能可調(diào)諧激光源、光開關(guān)以及能夠容納多達(dá)8個(gè)模塊等。