VDP6800霍爾效應(yīng)測(cè)試儀

輕巧方便，易于攜帶，主要用于量測(cè)電子材料之重要特性參數(shù)，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或體材料均可，其原理主要依據(jù)范德堡法則。  

除了用來(lái)判斷半導(dǎo)體材料之型態(tài)(n或p)以外，它也可應(yīng)用于LED磊晶層的質(zhì)量判定，也可以用來(lái)判斷在HEMT組件中二維電子氣是否形成，此未還可以用于太陽(yáng)能電池片的制程輔助。 可說(shuō)是一套功能強(qiáng)大、應(yīng)用廣泛的系統(tǒng)，再加上平實(shí)的價(jià)格， 相信必能受到各界用戶之肯定與愛(ài)用。

共有三種配置： 常溫；常溫+低溫；常溫+低溫+四點(diǎn)探針系統(tǒng)。

目前廣泛應(yīng)有于大學(xué)，研究所和半導(dǎo)體廠商。

VDP6800霍爾效應(yīng)測(cè)試儀

主要特點(diǎn)：

1、高精密度電流源 

輸出電流之精確度可達(dá)2nA，如此微小之電流可用于半絕緣材料之量測(cè)，即高電阻值材料之量測(cè)。 

2、高精密度電表 

使用超高精度電表，電壓量測(cè)能力可達(dá)nV等級(jí)，上限可達(dá)300V，極適合用于量測(cè)低電阻值材料。 

3、外型精簡(jiǎn)、操作簡(jiǎn)單 

外型輕巧、美觀大方，磁鐵組之極性更換也很靈活容易，*之液氮容器設(shè)計(jì)，可確保低溫量測(cè)之穩(wěn)定性。 

4、I-V曲線 

采用圖表的方式，測(cè)量探針?biāo)狞c(diǎn)(A、B、C、D)間電流-電壓曲線，藉此評(píng)判樣品的歐姆接觸好壞。 

5、單純好用之操作畫面 

使用者只需在同一張操作畫面中，就可以完成所有的設(shè)定，實(shí)驗(yàn)結(jié)果由軟件自動(dòng)計(jì)算得到，并在同一張畫面中顯示出來(lái)，省卻畫面切換的麻煩，結(jié)果可同時(shí)得到體載流子濃度(Bulk Carrier Concentration)、表面載流子濃度(Sheet Carrier Concentration)、遷移率(Mobility)、電阻率(Resistivity)、霍爾系數(shù)(Hall Coefficient)、等重要實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。 

6、自行開發(fā)之彈簧樣品夾具，特殊設(shè)計(jì)之彈簧探針，其強(qiáng)度加強(qiáng)可改善探針與接觸點(diǎn)之電氣接觸，提高量測(cè)之可靠度。

7、可集成四點(diǎn)探針