JOBIN YVON（法國(guó)JY）輝光光譜儀- GD-PROFILER能夠?qū)腆w樣品的（包括導(dǎo)電性及非導(dǎo)電性材料）進(jìn)行表面逐層分析，界面分析及樣品整體成分分析，而且具有這些分析所需的高靈敏度和高的深度分辨率。
• 化學(xué)熱處理 – 碳化、氮化、碳氮化等 。
• 鍍鋅板（熱鍍鋅、鋅鐵合金化、鋅鋁合金化等）。
• 鍍錫板、磷化、鉻化等。
• PVD / CVD 涂層等。
• 鋁、鉛復(fù)層
• 薄的有機(jī)膜涂層
• 彩涂板
• 半導(dǎo)體、太陽(yáng)能電池、玻璃、陶磁

JOBIN YVON（法國(guó)JY）輝光光譜儀技術(shù)參數(shù)：
GD-Profiler 系列包括2 種型號(hào)，全部裝備RF 射頻光源，每種型號(hào)均有多種選配件，用于滿足不同用戶的測(cè)試要求和預(yù)算。GD-Profiler2 可測(cè)試多種樣品，有著*的性?xún)r(jià)比，GD-Profiler HR 是目前商品化的輝光光譜儀中性能高的，二者均可分析導(dǎo)體和非導(dǎo)體的固體樣品。廣泛應(yīng)用于傳統(tǒng)的鍍鋅/錫板（彩涂板）、汽車(chē)工業(yè)、航空航天、熱處理（滲碳/滲氮）、陶瓷工業(yè)、玻璃工業(yè)、表面污染以及當(dāng)前在歐美和日本科研與工業(yè)對(duì)半導(dǎo)體電子（液晶面板/硬盤(pán)/芯片）、新能源（鋰電池/LED/光伏）研究與分析應(yīng)用可以替代原來(lái)只能依賴(lài)的SIMS(二次離子質(zhì)譜)或XPS（光電子能譜儀）。與其相比之下GDS 做到更高效、更快速、更經(jīng)濟(jì)等多方面優(yōu)勢(shì)，受到越來(lái)越多的科研工作者的認(rèn)可與青睞，刮起一股從西方到東方席卷的輝光新風(fēng)尚。