p-100 微光顯微鏡emmi

參考價(jià)	￥ 999999
訂貨量	≥1

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司
品牌
型號(hào) p-100
產(chǎn)地 中國(guó)臺(tái)灣
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2018/5/4 10:33:19
訪問(wèn)次數(shù) 1304

產(chǎn)品標(biāo)簽

微光顯微鏡emmi 漏電定位元器件失效分析半導(dǎo)體失效分析 IC漏電檢測(cè)

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公司介紹 主營(yíng)產(chǎn)品

儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司是一家專業(yè)提供集成電路失效分析及可靠行測(cè)試的服務(wù)商

主要服務(wù)項(xiàng)目：半導(dǎo)體失效分析設(shè)備，元器件失效分析可靠性測(cè)試

	非破壞性分析
	小型測(cè)試機(jī) / 半導(dǎo)體I-V特性曲線儀 / 探針臺(tái) / 顯微鏡觀察分析 / 3D X-Ray / 超聲波掃描顯微鏡 /

	破壞性分析
	激光開封 / 手動(dòng)開封 / 酸自動(dòng)開封機(jī) / 小型半導(dǎo)體器件銑床 / 微光分析儀 / 光致電分析儀 / 研磨拋光 / 探針臺(tái) / 掃描電子顯微鏡/能譜分析 /

	化學(xué)處理
	取晶 / 反應(yīng)離子刻蝕機(jī) / 碼點(diǎn)染色 / 顯微照相 / 電子掃描顯微鏡/能譜分析 /

	聚焦離子束
	微線路修改 / 測(cè)試鍵生長(zhǎng) / 縱向微切片解剖 / 微區(qū)刻蝕 /

	可靠性服務(wù)
	預(yù)處理 / 冷熱沖擊(TC) / 高壓蒸煮加速實(shí)驗(yàn)(HAST) / HTRB / 老化實(shí)驗(yàn)(Burn in) / 高壓高濕實(shí)驗(yàn)(SPP) /

	靜電測(cè)試(ESD/HBM/MM)
	CDM / Latch up / HBM / MM /

	可焊性測(cè)試
	沾濕天平(Wet Balance) / 錫須實(shí)驗(yàn)(Whisker) /

	研磨/拋光等耗材銷售
	Allied / ProbeTips /

展開

探針臺(tái)probe，開封機(jī)laser decap，紅外顯微鏡，微光顯微鏡EMMI，IV自動(dòng)曲線量測(cè)儀

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光發(fā)射顯微鏡微光顯微鏡emmi元器件失效分析漏電定位熱點(diǎn)測(cè)試

光發(fā)射顯微鏡是器件分析過(guò)程中針對(duì)漏電失效模式，*的分析工具。器件在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制造過(guò)程中有絕緣缺陷，或者期間經(jīng)過(guò)外界靜電擊穿，均會(huì)造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下，內(nèi)部形成流動(dòng)電流，漏電位置的電子會(huì)發(fā)生遷移，形成電能向光能的轉(zhuǎn)化，即電能以光能的方式釋放，從而形成200nm~1700nm紅外線。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線偵測(cè)器，通過(guò)紅外顯微鏡探測(cè)到這些釋放出來(lái)的紅外線，從而精準(zhǔn)的定位到器件的漏電點(diǎn)。我司推出的P-100光發(fā)射顯微鏡(EMMI),在同業(yè)中具有超高的性價(jià)比,并憑借良好的售后服務(wù),迅速占領(lǐng)市場(chǎng).目前大中國(guó)地區(qū)的失效分析客戶有: 上海宜碩、深圳宜智發(fā)、上海閎康、上海礬詮、廣州五所、北京電科院、東南大學(xué)、樂(lè)山菲尼克斯、深圳明微。。。。。。

微光顯微鏡emmi元器件失效分析漏電定位熱點(diǎn)測(cè)試

Junction Leakage Oxide Leakage