化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)測(cè)量?jī)x>其它光學(xué)測(cè)量?jī)x>USPMⅢ 奧林巴斯 鏡片反射率測(cè)定儀 USPMⅢ
USPMⅢ 奧林巴斯 鏡片反射率測(cè)定儀 USPMⅢ
- 公司名稱 儀景通光學(xué)科技（上海）有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號(hào) USPMⅢ
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/4/23 20:31:36
- 訪問(wèn)次數(shù) 9924
聯(lián)系方式：市場(chǎng)部4008751717分機(jī)806 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|
USPM-RUⅢ鏡片反射率測(cè)定儀
USPM-RU III反射儀可精確測(cè)量當(dāng)前分光儀無(wú)法測(cè)量的微小、超薄樣本的光譜反射率，不會(huì)與樣本背
面的反射光產(chǎn)生干涉。是適合測(cè)量曲面反射率、鍍膜評(píng)價(jià)、微小部品的反射率測(cè)定系統(tǒng)。
消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系統(tǒng)，消除背面反射光。
不必進(jìn)行背面的防反射處理，可正確測(cè)定表面的反射率。
-
可測(cè)定微小區(qū)域的反射率
用物鏡對(duì)焦于樣本表面的微小光斑（?60 μm），可以測(cè)定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。 -
測(cè)定時(shí)間短
由于使用了Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測(cè)光機(jī)構(gòu)，可以進(jìn)行快速、再現(xiàn)性很高的測(cè)定。 -
支持XY色度圖、L*a*b*測(cè)定
可以依據(jù)分光測(cè)色法，通過(guò)分光反射率測(cè)定物體顏色。 -
可以測(cè)定高強(qiáng)度鍍膜的膜厚
采用干涉光分光法，可以在不接觸、無(wú)損的情況下測(cè)定被檢物的膜厚（單層膜）。
-END-
采購(gòu)中心
化工儀器網(wǎng)