SPM-Nanoa 原子力顯微鏡
- 公司名稱(chēng) 島津企業(yè)管理（中國(guó)）有限公司
- 品牌 SHIMADZU/島津
- 型號(hào) SPM-Nanoa
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 更新時(shí)間 2024/9/5 21:11:45
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 4403
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
|---|
SPM-Nanoa原子力顯微鏡性能特點(diǎn)：
自動(dòng)觀(guān)察
自動(dòng)完成光路調(diào)整、掃描參數(shù)設(shè)定、圖像處理
使用標(biāo)準(zhǔn)樣品和標(biāo)準(zhǔn)探針時(shí)操作用時(shí)5分鐘*
*自動(dòng)觀(guān)察模式，掃描范圍1um× 1um ，256×256點(diǎn)陣。操作時(shí)長(zhǎng)依賴(lài)于操作者。
性能優(yōu)異
從光學(xué)顯微鏡到SPM/AFM，各模式下均可清晰地捕捉圖像
利用光學(xué)顯微鏡搜索目標(biāo)區(qū)域，利用SPM可以方便地進(jìn)行高分辨率觀(guān)察。利用與表面形狀圖像相同的視場(chǎng)可以獲得其他物理特性信息。
樣品：硅基底上的二氧化硅圖案
豐富多樣的掃描模式
從形貌觀(guān)察到基于力曲線(xiàn)測(cè)量的物性分析，支持廣泛的掃描模式。這意味著可以兼顧高分辨率與物性測(cè)試。
| 形貌 | 接觸模式、動(dòng)態(tài)模式 |
|---|---|
| 機(jī)械性能 | 相位模式、側(cè)向力模式、力調(diào)制模式、Nano 3D Mapping Fast * |
| 電磁學(xué) | 電流模式* 、磁力模式* 、表面電勢(shì)模式* 、壓電力模式* 、STM * |
| 納米加工 | 矢量掃描模式* |
| 環(huán)境支持 | 液體環(huán)境* |
搜尋目標(biāo)區(qū)域更容易
利用清晰地光學(xué)顯微鏡圖像，可以輕松找到目標(biāo)區(qū)域，不用擔(dān)心振動(dòng)的影響。
SPM-Nanoa集成了一體式高性能光學(xué)顯微鏡。
樣品視野
使用集成光學(xué)顯微鏡，樣品表面的3um間隔圖案清晰可見(jiàn)。
高分辨觀(guān)察表面物性
極軟樣品的變形或樣品局部的機(jī)械及電氣性能的差異，都可以獲得高分辨率的觀(guān)測(cè)圖像。
用表面電勢(shì)模式觀(guān)察云母基底上的金納米顆粒
該圖顯示了0.2um范圍內(nèi)的表面電勢(shì)（右）和形貌圖像（左）
8K成像助力大范圍高分辨掃描
最大可支持8K（81929192）掃描點(diǎn)陣，大范圍區(qū)域的小細(xì)節(jié)也纖毫畢現(xiàn)。
觀(guān)察金屬蒸鍍膜
省時(shí)高效
支持功能功能模式高速觀(guān)察
通過(guò)高速觀(guān)察和物性高速成譜功能，顯著減少了觀(guān)測(cè)時(shí)間。
探針更換工具和樣品更換機(jī)構(gòu)有效縮短了掃描準(zhǔn)備時(shí)間。
高通量觀(guān)測(cè)
高速物性成譜
簡(jiǎn)便順滑地樣品更換
便捷更換探針
高通量觀(guān)測(cè)
高速物性成譜
采用了可實(shí)現(xiàn)高速響應(yīng)的HT掃描器并優(yōu)化了控制算法，從而大幅縮短了觀(guān)察和物性成像的數(shù)據(jù)獲取時(shí)間
簡(jiǎn)便順滑地樣品更換
高速物性成譜
一鍵式操作實(shí)現(xiàn)自動(dòng)開(kāi)啟、關(guān)閉平臺(tái)，放置和取出樣品。
由于固定了激光的照射位置，所以在樣品更換后可立即進(jìn)行觀(guān)察。
探針更換簡(jiǎn)單且可靠 Cantilever Master（選購(gòu)）
僅需將探針?lè)胖迷谥付ǖ奈恢茫⑹蛊溲刂鴮?dǎo)軌滑動(dòng)即可安裝，即使操作人員不習(xí)慣使用鑷子，也能夠簡(jiǎn)單準(zhǔn)確地進(jìn)行操作。
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