[技術(shù)參數(shù)]
     探測(cè)器：      進(jìn)口半導(dǎo)體探測(cè)器，分辨率達(dá)139eV
     X光管：       鎢（W）靶，zui大電壓50kV，zui大電流1mA
                           使用壽命長(zhǎng)達(dá)5萬小時(shí)
     高壓電源：  精密X射線電源，zui高輸出電壓50kV
                           穩(wěn)定度每8小時(shí)小于0.05%
     濾光片：      6組濾光片電動(dòng)切換，有效降低背景干擾
     準(zhǔn)直器：      直徑8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm電動(dòng)切換
                           免去人工操作煩惱
     對(duì)焦系統(tǒng)：  旋鈕視覺對(duì)焦
     樣品腔：     大氣
     樣品觀察： 高清晰彩色CCD射線頭
     X射線防護(hù)： 三重X射線防護(hù)（樣品腔、機(jī)殼、程序控制），
                          低于GB16355-1996防輻射標(biāo)準(zhǔn)
     輸入電壓：  AC 220V/50HZ
    功耗：           260W
    樣品腔尺寸： 660×400×135mm
    外型尺寸：  680×460×475mm
    重量：         40Kg

[性能指標(biāo)]
    可測(cè)元素：         硫（S）－鈾（U）
    可測(cè)鍍層：         zui多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無機(jī)薄膜
    鍍層種類：         單金屬、合金、無機(jī)薄膜
    精度：                 zui高可達(dá)0.02um
    厚度相對(duì)誤差： 單層8%，多層15%
    厚度范圍：         輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um
                                 中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
                                 重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um
    zui小測(cè)量直徑： 2mm
    分析時(shí)間：         60～300S

[功能特點(diǎn)]
    采用進(jìn)口的型探測(cè)器，對(duì)超低含量的元素都能探測(cè)；
    自動(dòng)安全的高壓防護(hù)電路設(shè)計(jì)；
     *的光路系統(tǒng)，增大X射線強(qiáng)度，減少散射背景；
    緊密封閉的腔體設(shè)計(jì)、電路控制、機(jī)械控制三重X射線防護(hù)；
    靈活精準(zhǔn)的分析軟件，既可進(jìn)行簡(jiǎn)單、快速的物質(zhì)測(cè)試，滿足工業(yè)化生產(chǎn)需求，也
    可通過科學(xué)的參數(shù)配置滿足復(fù)雜、高精度的元素分析；
    采用了、復(fù)雜的X熒光分析算法，比任何同類軟件都要適應(yīng)各種復(fù)雜、多
    樣的物質(zhì)分析，解決了傳統(tǒng)X熒光分析必須依賴相同基體標(biāo)樣局限；
    對(duì)分析樣品的狀態(tài)、形狀、大小自動(dòng)進(jìn)行校正，減少因制樣不足而帶來的誤差。